Raster-Elektronen-Mikroskop
(Leitz ISI 60)

Lichtmikroskope
(Zeiss Photomikroskop, Zeiss Axioskop, Leitz Orthoplan)

AFM Atomic Force Microscope

Raster-Elektronen-
Mikroskop

Für Aufnahmen bis > 100.000-facher Vergrößerung

Interferenz-Kontrast nach Normarski Partikelbetrachtung auf Oberflächen (Dunkelfeld) + Fluoreszenz

Darstellung von Nanostrukturen

AFM

Reißkraftanalysator (Adamel DY 30)

Rautiefenmeßgerät (Mitutoyo Surftest)

Dickenmeßgerät (Mitutoyo)

Einreiß-/Durchreißkraft, Längendehnung, Materialermüdung, chemische Beständigkeit

Oberflächenrauigkeit Ra, Ry, Rz

Materialdicke von Papieren und textilen Werkstoffen

Labor- und Microwaage ab 1,0 µg (Kern, Satorius)

Flächenmassen; gravimetrische Auswertung von Absorbations-Prüfungen

Quarz-Analysewaage

Rotationswischsimulator nach Labuda (Clear & Clean)

für Gewichtsmessungen im ng-Bereich

Partikelabrieb von textilen Werkstoffen (nass und trocken)

Laser-Fluoreszenz-Meßplatz 1 (Kienzle)
Laser-Fluoreszenz-Meßplatz 2 (Kienzle)
Kontavisor, MiniKont

schnelle quantitative Bestimmung dünner Mineralölschichten

Rautiefenmeßgerät

Microwaage

Partikelabrieb

elektronischer Bildanalysen-Meßplatz (Leitz - Image Pro)

Interferometrischer
Laserpartikelanalysator (TSI)

Laser-Partikelzähler (Climet / CAS)

Laser-Nano-Partikelzähler
(Vasco II, Cordouan)

Part-Lift Kollektor für Partikelanalyse auf Oberflächen nach Labuda

Zählung flüssigkeitsgetragener
Partikel > 0,19 µm

Zählung Luftgetragener
Partikel > 0,5 µm

Zählung von Partikeln ab 1 nm in Flüssigkeiten

Kapillar-Elektrophorese-Messplatz

Polarographische Voltammetrie (GAT)

Tensiometer (Lauda)

FTIR-Spektrometer Agilent

UV-VIS-Spektrometer, Amersham

Tensiometer

Ionen-Konzentration, Echtzeit- Elektropherogramme, An- und Kationen

Stripping Voltammetrie zur Schwermetall-Analyse im ppt-Bereich

Oberflächen-Spannung von Flüssigkeiten, Tensidfreisetzung

chemische Analyse von Flüssigkeiten, Gasen und Feststoffen

Reinheit von Extraktionsmitteln

FTIR-Spektrometer

Hochohm-Meßbrücke (Thieming)

Coulombmeter (Elab CM 04)

Digital-Feldmeter (JCI)

Ehrler Fallschlitten-Meßplatz
(Clear & Clean)

Klimakammer (Rubarth)

Ehrler Fallschlitten

Oberflächenwiderstand von Papier und Textilien bis 10¹⁵ Ohm

Messung elektrischer Ladungen im nC-Bereich

Messung triboelektrischer Felder von Papieren und Textilien bis 20 kV

zur Erzeugung materialspezifischer triboelektrischer Felder

Einstellung definierter Prüfklimata zwischen 20 und 95 % relH

Linear-Wischsimulatoren
(Betex / Clear & Clean)

Präzisions-Ellipsometer-Meßplatz,
Mapping-Version (DRE - Dr. Riß)

Messung der Reinigungs-Effizienz von textilen und porösen Werkstoffen

Schichtdickemessung im Picometerbereich, Messung der Reinigungseffizienz im molekularen Dickenbereich

Tropfenkonturanalyse / Randwinkelmessung (Lauda)

Nachweis von Verunreinigungs- Übertragungen auf Oberflächen

Ellipsometer

Wischsimulator

Tropfenkonturanalyse

Clear & Clean GmbH
Tel.+49-451-389500
Fax +49-451-3895020
info@clearclean.de